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Segundo dia del MESIC 2015

Se esta desarrollando las sesiones de presentaciones del segundo día del congreso. Este día está dedicado a los siguientes topics: Industrial quality Teaching and learning in M.I. Industrial PLM Sesión especial) y PLM Tecnological platform (Sesión especial)

EL «CEM» PREMIO SIF 2015

Al Centro Español de Metrología (CEM) se le ha concedido el Premio de la Sociedad de Ingeniería de Fabricación en su edición de 2015. La Comisión del Premio SIF, en la reunión celebrada el 10 de junio de 2015, ha…

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