MIGUEL ÁNGEL SEBASTIÁN RECIBE EL RECONOCIMIENTO EII EN METROLOGÍA 2025

El Comité de Metrología del  Instituto de Ingeniería de España (IEE) ha otorgado el “Reconocimiento al Merito en Metrología”, en su edición de 2015, al profesor Miguel Ángel Sebastián, profesor emérito de la UNED, Premio SIF 2024 y socio nº 1 de la SIF, “por su continuada labor en la difusión de las aplicación de la Metrología Dimensional en diferentes ramas de la ingeniería, y por sus trabajos de investigación y desarrollo de esta disciplina”. 

La Jornada de proclamación y entrega de dicha distinción se celebró en la sede del IIE (C/ General Arrando, 38, Chamberí, Madrid) el 29 de mayo, a las 17:00, organizada por el Comité de Metrología del IIE y el Centro Español de Metrología (CEM) se llevó a cabo en formato presencial y online. 

La Junta Directiva de la SIF había remitido una carta de apoyo a la candidatura a este reconocimiento formulada por los doctores Ángel Miguel García de la Chica y Jesús de Vicente y Oliva.

Tras la bienvenida a los asistentes, ofrecida por María Cruz Díaz Álvarez, presidenta del IIE, Antonio Moreno, Presidente del Comité de Metrología del IEE, presentó la Jornada. Posteriormente, José Prieto Calviño, secretario del Jurado, hizo la proclamación del homenajeado, mediante la lectura del acta del jurado del reconocimiento IIE al mérito en la metrología 2025. La laudatio al homenajeado corrió a cargo de Ángel Miguel García de la Chica, miembro del Comité de Metrología del IIE, a la que dio respuesta el profesor Sebastián. La Jornada continuó con la conferencia «El Tratado de la Convención del Metro. Instrumento clave para la cooperación metrológica universal y desarrollo del SI», ofrecida por José Ángel Robles, director del Centro Español de Metrología (CEM), a la que siguió un coloquio y tras el que se llevó a cabo la clausura.

La SIF se congratula de este merecidísimo premio y felicita a nuestro socio nº 1.